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为了准确计算出镀膜过程中每层膜的折射率,介绍了实时监控过程中确定膜层折射率的2种方法:一种是由实测的透射比光谱直接反算出膜层的折射率;另一种是用最小二乘法的优化算法实时拟合折射率。试验结果表明:在线反算适合单点监控,所得折射率误差小于2%。然而在实际镀膜过程中,由于宽带内膜层参数误差较大,一般大于25%。为此,采用最小二乘法拟合,即在整个宽光谱范围内采集每个波长点的信息,所得结果误差很小,一般都在2%~5%之间,有时可达到10%,在很大程度上提高了实际镀膜时膜厚监控的精度。 相似文献
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应用TGT法生长了直径为75mm的U:CaF2晶体,宏观上透明完整.应用公式K0=Cs/Cl计算了U在CaF2晶体中的分凝系数等于0.53.应用溶质分布一般公式Cs=K0C0(1-g)K0-1,计算U的浓度分布与测量值,数值符合说明晶体生长过程接近平衡状态.分析不同条件下生长的U: CaF2晶体的晶胞参数和吸收光谱,结果表明生长气氛决定U的价态及电荷补偿机理:无PbF2存在的条件下,U为+4价,晶体呈绿色;PbF2的加入起到氟化去氧作用,U倾向于以离子半径最接近于Ca2+的U3+存在,晶体呈红色.从晶体生长开始到结束的部位,U3+:CaF2晶体吸收光谱的峰位不变,峰强呈现与U浓度相同的增加趋势.U3+:CaF2晶体外层厚约5mm处呈黄色,含有U3+和U2+的混合价态离子,其原理是石墨坩埚的还原作用通过单质铅,使部分的U3+进一步还原成了U2+.
关键词:
铀
氟化钙晶体
分凝系数
晶胞参数 相似文献
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A (w,r) cover‐free family is a family of subsets of a finite set such that no intersection of w members of the family is covered by a union of r others. A (w,r) superimposed code is the incidence matrix of such a family. Such a family also arises in cryptography as the concept of key distribution pattern. In the present paper, we give some new results on superimposed codes. First we construct superimposed codes from super‐simple designs which give us results better than superimposed codes constructed by other known methods. Next we prove the uniqueness of the (1,2) superimposed code of size 9 × 12, the (2,2) superimposed code of size 14 × 8, and the (2,3) superimposed code of size 30 × 10. Finally, we improve numerical values of upper bounds for the asymptotic rate of some (w,r) superimposed codes. © 2004 Wiley Periodicals, Inc. 相似文献
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Neodymium doped bismuth layer structure ferroelectrics (BLSFs) ceramics CaBi4−xNdxTi4O15 (x=0, 0.25, 0.50, 0.75) were prepared by solid-state reaction method. X-ray diffraction pattern showed that single phase was formed when x=0-0.75. The refined lattice parameters showed that a (b) axes decrease at x=0.25 and increase with more Nd3+ dopant. The effects of Nd3+ doping on the dielectric and ferroelectric properties of CaBi4Ti4O15 ceramics are studied. Nd3+ dopant decreased the Curie temperature linearly, and the dielectric loss, tan δ, as well. The remnant polarization of Nd3+ doped CaBi4Ti4O15 ceramics was increased by 80% at x=0.25, while more Nd3+ dopant decreased the remnant polarization. CaBi3.75Nd0.25Ti4O15 ceramics had the largest piezoelectric constant d33. The structure and properties of CaBi4−xNdxTi4O15 ceramics showed that Nd3+ may occupy different crystal locations when Nd3+ content x is less than 0.25 and more than 0.50. 相似文献